SYNPO, akciová společnost, poskytuje měření s rozlišením blízkým rozměru atomu pro měření topografie povrchu pomocí technologie Atomic Force Microscopy (AFM). Atomic Force Microscope se používá k řešení problémů při zpracování materiálů v široké škále technologií v oblastech elektronického, telekomunikačního, biomedicínského, chemického, automobilového, leteckého a energetického průmyslu. Obrázky AFM podávají kritické informace o kvalitě povrchu s nebývalou podrobností, včetně 3D zobrazení a kvantitativní analýzy dat (jako jsou velikosti elementů, drsnost povrchu, plocha a morfologie průřezů), interpretované v kontextu vašeho problému.
Ukázky identifikace uhlíkových nanotrubic
a průběhu odštěpování jednotlivých lamel z vrstevnatého
materiálu (MXeny) (topografické znázornění).
POSKYTOVANÉ MĚŘENÍ:
I. Topografie – metoda vykreslování, která vytváří barevné mapování povrchu (podá informace o drsnosti povrchu, velikosti částic atd.).
II. Mechanické vlastnosti vč. nanoindetačního módu (tuhost materiálu, adheze atd.).
Tyto vlastnosti lze v závislosti na vašich požadavcích měřit na vámi přinesených vzorcích, ale samozřejmostí je i příprava vašich vzorků u nás (nanesení na podklad (spin-coating, dip-coating, nátěr…) či řez materiálem při kryo-podmínkách (ultramikrotom při teplotách kapalného dusíku).
VÝHODOU SPOLUPRÁCE S ODDĚLENÍM NANOSTRUKTUROVANÝCH POLYMERŮ, SYNPO, A.S., JE SYNERGIE:
- zkušeností (založeno 1946),
- laboratoří pro dispergaci materiálů,
- laboratoří pro charakterizaci v makro-rozměrech i nano-rozměrech (AFM, DLS – velikost částic a polydisperzita jejich velikostí v koloidech vč. jejich stability),
- úzké spolupráce s Univerzitou Pardubice.
SYNPO, akciová společnost; afm@synpo.cz
www.synpo.cz
